22/2019 - Caratterizzazione di materali con il microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione (SEM-FEG)

Il percorso formativo verrà svolto interamente nel laboratorio, agli studenti verranno illustrate le potenzialità della tecnica di microscopia ottica ed elettronica, il principio fisico che ne è alla base e gli aspetti generali. Gli studenti avranno la possibilità di fare un viaggio nel micro e nel nano mondo, attraverso l'acquisizione di immagini catturate col microscopio SEM-FEG-ZEISS su una vasta tipologia di materiali.

Sviluppo competenze

Favorire lo sviluppo di competenze scientifiche circa la caratterizzazione dei materiali attraverso la microscopia elettronica ed ottica; favorire la capacità nella gestione del lavoro di gruppo e nella percezione delle esigenze individuali; favorire la capacità organizzativa e di gestione di un laboratorio di ricerca, sia dal punto di vista individuale che come team working.

Metodologie e strumenti di lavoro

Microscopio elettronico a scansione ad effetto di campo ad alta risoluzione (SEM-FEG); microscopio ottico; metodologie di preparazione campioni per osservazioni SEM.

Luogo

Centro Ricerche Brindisi

Posti disponibili

3

Durata

5 giorni

Periodo di fruizione

febbraio/marzo

Orario

9.00-16.00

Ore attività per studente

30