22/2019 - Caratterizzazione di materali con il microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione (SEM-FEG)
Il percorso formativo verrà svolto interamente nel laboratorio, agli studenti verranno illustrate le potenzialità della tecnica di microscopia ottica ed elettronica, il principio fisico che ne è alla base e gli aspetti generali. Gli studenti avranno la possibilità di fare un viaggio nel micro e nel nano mondo, attraverso l'acquisizione di immagini catturate col microscopio SEM-FEG-ZEISS su una vasta tipologia di materiali.
Sviluppo competenze
Favorire lo sviluppo di competenze scientifiche circa la caratterizzazione dei materiali attraverso la microscopia elettronica ed ottica; favorire la capacità nella gestione del lavoro di gruppo e nella percezione delle esigenze individuali; favorire la capacità organizzativa e di gestione di un laboratorio di ricerca, sia dal punto di vista individuale che come team working.
Metodologie e strumenti di lavoro
Microscopio elettronico a scansione ad effetto di campo ad alta risoluzione (SEM-FEG); microscopio ottico; metodologie di preparazione campioni per osservazioni SEM.
Luogo
Centro Ricerche Brindisi
Posti disponibili
3
Durata
5 giorni
Periodo di fruizione
febbraio/marzo
Orario
9.00-16.00
Ore attività per studente
30
