Scuola teorico-pratica di Microscopia Elettronica a Scansione in Scienza dei Materiali

La scuola, organizzata dalla SISM (Società Italiana di Scienze Microscopiche) in collaborazione con ENEA (Agenzia nazionale per le nuove tecnologie, l’energia e lo sviluppo economico sostenibile), tratterà i principi della microscopia elettronica a scansione e le sue applicazioni nel campo della Scienza dei Materiali ed è rivolta a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia e a chi opera nel campo dei materiali.
Quando dal 04/10/2011 alle 09:00
al 06/10/2011 alle 16:00
Dove S. Maria di Galeria (Roma)
Persona di riferimento
Aggiungi l'evento al calendario vCal
iCal

La scuola prevede una parte teorica sul SEM (elementi di ottica elettronica, interazione elettronemateria, rivelatori e segnali, microanalisi); una parte pratica ai microscopi elettronici a scansione (sia a pressione variabile con filamento LaB6 e microanalisi a raggi X sia FEG ad alta risoluzione).

Le principali ditte leader nel settore della microscopia elettronica presenteranno le ultime novità strumentali del settore. I microscopi sono corredati da sistemi di condivisione e controllo remoto per l'acquisizione delle immagini attraverso la rete web. Verrà illustrata la procedura di utilizzo delle apparecchiature in modalità remota da parte di utenti esterni. È possibile osservare campioni portati dai partecipanti.

La scuola sarà organizzata con lezioni teoriche e pratiche presso i laboratori del Centro Ricerche ENEA Casaccia per la durata di tre giorni e di una sessione in remoto per l’osservazione dei campioni portati dai partecipanti attraverso la condivisione del microscopio via web. I partecipanti potranno quindi, nei giorni successivi alla scuola, poter osservare i propri campioni dal proprio laboratorio.

 Programma