Caratterizzazione microstrutturale e microanalitica di materiali

TEM FEI TECNAI G2 30FL’ENEA dispone di un Laboratorio per la caratterizzazione/qualificazione di materiali e componenti dal punto di vista microstrutturale - costituito da un insieme integrato di strumentazioni e competenze - tra i principali in Italia. Esso permette di effettuare indagini approfondite sulla struttura, sulla microstruttura e sulle eterogeneità di carattere chimico presenti nella materia.

Le informazioni ottenibili sono imprescindibili per programmi di sviluppo di materiali innovativi. Alcuni indicatori microstrutturali sono inoltre utilizzabili, a supporto ed integrazione di CND, per diagnosticare l’insorgere di anomalie e difetti, oltre che utili a fornire informazioni sulla vita residua di acciai sottoposti a carichi elevati e ad alta temperatura.

La versatilità della strumentazione consente sia azioni di ricerca che analisi di servizio, in collaborazione con il sistema della ricerca e con quello industriale.

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Spettrometro XPS modello VG ESCALAB MK II dotato di doppio anodo, cannone ionico per depth-profiling, lampada UV per analisi UPS, raffreddamento nominale alla temperatura dell'azoto liquido e riscaldamento del campione sino a 800 °C in situ.

 

 

 

 

Elementi tecnici

Difrattometro a raggi X MPDIl Laboratorio è dotato di:

  • microscopia elettronica in trasmissione (TEM)
  • microscopia elettronica a scansione (SEM)
  • diffrazione di raggi X per indagini strutturali mediante diffrazione ad alto e a basso angolo con ampia dotazione di strumentazione
  • spettroscopia di fotoelettroni (XPS) e di elettroni Auger per l’analisi chimica di superfici ed interfacce.

 

Unità ENEA di riferimento

Unità Tecnica Tecnologie dei Materiali – Centro Ricerche Casaccia

 

Referente

Marco Vittori Antisari, marco.vittori@enea.it

Tipologia di servizio: Sviluppo tecnologie